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TESTEX增加了带有EDX的扫描电子显微镜

时间:2021-01-28 09:16:29 | 来源:

TESTEX进一步扩展了用于评估损害索赔的测试设施。现在,通过购买带有能量色散X射线荧光分析(EDX)的扫描电子显微镜(SEM),可以识别单个化学元素。也可以满足使用SEM对羊绒分析的不断增长的需求。

扫描电子显微镜能够显示例如纤维,细丝和纱线的横截面和表面特性。SEM具有出色的聚焦深度和高分辨率,因此特别适合显示具有结构化表面的对象。在SEM的监视器上显示立体的三维图像。使用SEM

的可能分析范围可以通过能量色散X射线荧光分析(EDX)进一步扩展。EDX利用SEM中出现的X射线研究元素组成,这意味着可以分析样品材料的微小区域。这涉及原子序数高于11的元素(所有元素均比钠重)。如此处的示例所示,可以确定纤维(例如X静态)上的银(Ag)量。这是通过在3 keV处出现一个峰值的光谱来显示的。这

种分析方法正越来越多地用于评估损害索赔,以便对纺织品表面的涂层和沉积物进行元素分析。

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